徠卡偏光顯微鏡 DM750P 配備的物鏡通常為 2.5X-100X。其測量西藥結(jié)晶晶體顆粒大小的范圍理論上可以從幾微米到數(shù)百微米甚至更大，具體取決于所使用的物鏡倍數(shù)和目鏡測微尺的精度。

低倍物鏡（如 2.5X、10X）：適合觀察較大的晶體顆?；蚓w群體，可測量幾十微米到數(shù)百微米大小的晶體。此時能夠觀察到晶體的整體形態(tài)和分布情況，但對于較小晶體顆粒的細節(jié)分辨能力相對較弱。

高倍物鏡（如 40X、100X）：可以清晰地觀察到晶體的細微結(jié)構(gòu)和特征，能夠測量幾微米到幾十微米的晶體顆粒。在這種放大倍數(shù)下，能夠更準確地測量晶體的尺寸，但觀察視野相對較小，需要花費更多時間尋找和定位合適的晶體顆粒進行測量。

目鏡測微尺在不同的物鏡倍數(shù)下，其每一小格所代表的實際長度不同。通過事先校準目鏡測微尺與實際長度的對應(yīng)關(guān)系，就可以根據(jù)晶體在測微尺上所占的格數(shù)來計算其大小。徠卡偏

光顯微鏡 DM750P 配合高精度的目鏡測微尺和合適的物鏡，能夠滿足大多數(shù)西藥結(jié)晶晶體顆粒大小的測量需求。